(3) Ｘ線励起近赤外過渡分光 -Transient NIR spectroscopy of X-ray excited materials-
放射光やX線自由電子レーザ−を用いたX線計測の際、試料に強力なパルスＸ線を照射しているため、Ｘ線自身で物性を変化させている可能性があります。さらに最近では、放射光の高輝度化計画が進められいて、Ｘ線照射の物性への影響が益々考えられます。Ｘ線照射の影響というと、Ｘ線損傷をまず想像しますが、一方で、Ｘ線照射により発現したＸ線物性という見方もできます。 当研究室では、X線パルスが照射された半導体単結晶や磁性体の"X線物性"を近赤外過渡分光法で調べています。
*特別研究助成金 (兵庫県立大学) H26年度
*学術研究助成(ひょうご科学技術協会) H28年度
*科研費 基盤研究B(分担: 代表:鈴木基寛氏) H29-31(R1)年度
*科研費 基盤研究B H31(R1)-R3年度
*主な論文
Y. Tanaka et al., Time-Resolved Optical Spectroscopy of a GaAs Single Crystal Irradiated by SR X-Ray Pulses,
AIP conference proceedings, 2524, 040009 (2019)