(1) ピコ秒時間分解Ｘ線回折法 -Picosecond time-resolved X-ray diffraction-
放射光Ｘ線を用いた時間分解Ｘ線回折によって、単結晶格子の高速構造変化をとらえています。 フェムト秒パルスを半導体表面に照射して、生じる過渡的格子歪みの観測を行っています。 GaAs単結晶では、数百ピコ秒の応答をもつ初期歪みと音響フォノンを観測しました。 また、Si単結晶では、最初の約1 nsで結晶格子の圧縮がおこり、それが熱膨張へと変わっていく様子をとらえました。 さらに初段の構造変化を観測するために、Ｘ線自由電子レーザーSACLAを用いたフェムト秒時間分解Ｘ線回折測定を行っています。
*科研費 特定領域 H16-18年度
*CREST JST H16-21年度
*物質・デバイス領域共同研究課題(北大西野研) H23-27年度
*科研費 基盤研究A(分担: 代表:田中良和氏) H31(R1)-R4年度
*主な論文
Y. Tanaka et al., Time-resolved Bragg coherent X-ray diffraction revealing ultrafast lattice dynamics in nano-thickness crystal layer
using X-ray free electron laser, Journal of the Ceramic Society of Japan, 121 pp.283-286 (2013)
Y. Tanaka et al., Time-resolved X-ray diffraction studies of laser induced acoustic pulse generation in semiconductors using
synchrotron radiation, J. Phys. Conf. Ser.,278, 012018 (2011)
Y. Hayashi et al., Acoustic pulse echoes probed with time-resolved x-ray triple-crystal diffractometry,
Phys. Rev. Lett., 96, p.115505 (2006)