(6)Ｘ線分配装置およびＸ線分配システム
出願国：日本
特許番号 : 5751665
出願番号：特願2011-44376
出願日：2011年3月1日
登録日：2015年5月29日
出願人：独立行政法人理化学研究所
発明者：田中義人、伊藤基巳紀、澤田桂
(5)高精度トリガ遅延装置、その使用方法
出願国：日本
特許番号：5131663
出願番号：特願2008-183736
出願日：2008年7月15日
発行日：2013年1月30日
出願人：独立行政法人理化学研究所
発明者：大島隆、田中義人
(4)Ｘ線検出装置及び粉末Ｘ線回折測定方法
出願国：日本
出願番号：特開 2008-4684
出願日：2008年1月11日
出願人：独立行政法人理化学研究所、公立大学法人大阪府立大学、
国立大学法人広島大学
発明者：田中義人、久保田佳基、黒岩芳弘、高田昌樹、北川進
(3)Ｘ線波面センサ
出願国：日本
出願番号：特願 2007-282794
出願日：2007年10月31日
出願人：独立行政法人理化学研究所
発明者：香村芳樹、田中義人
(2)高精度クロック・トリガ連続遅延装置
出願国：日本
特許番号 : 4746451
出願番号：特願 2006-067346
出願日：2006年3月13日
登録日：2011年5月20日
出願人：財団法人高輝度光科学研究センター
発明者：大島隆、田中義人
(1) 赤外光発生装置
出願国：日本
出願番号：特願 1996-056340
出願日：1996年3月13日
出願人：理化学研究所
発明者：鈴木隆則、林樹傑、田中義人