X線レンズで微小スポット(マイクロビーム)を形成し,そのスポットに対して試料を機械的に2次元走査しながら信号を取得してコンピュータで画像化する手法 試料・検出器に,θ-2θ型回折計やイメージングプレート(IP)を用いれば,微小領域での回折測定が可能となる。
X線レンズで微小スポット(マイクロビーム)を形成し,そのスポットに対して試料を機械的に2次元走査しながら信号を取得してコンピュータで画像化する手法
試料・検出器に,θ-2θ型回折計やイメージングプレート(IP)を用いれば,微小領域での回折測定が可能となる。
集光レンズでX線ビームを試料上に集光し試料を照明し,試料の透過像を対物レンズで画像検出器上に拡大結像する手法 試料を回転させながら各回転角で顕微鏡像を取得することにより,顕微CTによる非破壊三次元内部構造の観察が可能となる。
集光レンズでX線ビームを試料上に集光し試料を照明し,試料の透過像を対物レンズで画像検出器上に拡大結像する手法
試料を回転させながら各回転角で顕微鏡像を取得することにより,顕微CTによる非破壊三次元内部構造の観察が可能となる。
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Compiled by Y. Kagoshima