| 令和3年 |
河野雄大 |
多波回折明視野X線トポグラフィによるHVPE GaN/Na-flux GaN結晶中転位の同定 |
| |
高津健太 |
スーパーボルマン効果を用いたX線トポグラフィによるGe単結晶基板の転位観察 |
| |
藤井綾香 |
軟X線顕微鏡用ディープフォーカスゾーンプレートの設計と集光特性に関する研究 |
| 令和2年 |
池田 匠 |
タンデムスリット光学系によるアンジュレーター放射光の位相空間ビーム特性評価に関する研究 |
| |
川島基貴 |
時分割コヒーレントX線回折による動的ナノイメージング法の開発 |
| 令和元年 |
青井雄幹 |
放射線損傷による空間分解能限界を超えるためのコヒーレントＸ線回折トモグラフィ法の開発 |
| |
赤田 樹 |
位相空間によるアンジュレーター放射光ビーム特性のID Gap依存性に関する研究 |
| |
藤田 優 |
スーパーボルマン効果を利用したCZ-Siネッキング部の転位観察 |
| |
山本知樹 |
酸化雰囲気中におけるAu/Si試料の軟X線光電子分光と測定データの自動解析 |
| 平成30年 |
鎌本春花 |
多波回折明視野X線トポグラフィによるSiC単結晶基板中転位の同定 |
| |
福田敬三 |
縮小結像照明を用いたX線タイコグラフィーの開発 |
| |
水落博之 |
多波回折明視野X線トポグラフィによるNaフラックス法GaN基板中転位の同定 |
| 平成29年 |
鶴丸哲也 |
多波回折明視野X線トポグラフィによるSi中のミスフィット転位観察 |
| |
宮川天将 |
位置－角度－波長の3次元空間における放射光ビームの特性評価に関する研究 |
| 平成28年 |
香川咲貴 |
デュモンド図形測定による放射光ビームの特性評価に関する研究 |
| 平成26年 |
角田和浩 |
硬X線多層膜ゾーンプレートの高空間分解能化 |
| |
福田修平 |
放射光X線によるNaフラックス法GaN単結晶基板の結晶性評価 |
| |
松村篤恭 |
線集光型全反射ゾーンプレートの評価及び点集光への応用 |
| 平成25年 |
尾上貴洋 |
高平行度X線マイクロビームによる光導波路用Ge結晶の結晶性評価 |
| |
作花賢治 |
硬Ｘ線集光ビームを用いたリソグラフィ法の研究 |
| |
硲 和輝 |
リチウムイオン二次電池の開発における放射光XAFSの応用 |
| |
廣友稔樹 |
硬X線多層膜ゾーンプレートの作製及び評価 |
| 平成24年 |
東 宏昭 |
高感度硬Ｘ線結像顕微鏡光学系の開発 |
| |
澤田沙希 |
ラウエソーン型Ｘ線導波路の開発 |
| |
下田麻由 |
GaN基板の結晶性評価 |
| |
下村 翔 |
軽元素試料観察のための走査型硬Ｘ線顕微鏡の開発 |
| 平成23年 |
荒井美智子 |
平面型X線導波路の研究およびラウエレンズ型X線導波路の設計 |
| |
衣笠陽揮 |
フォトニクス用梁状Siの結晶性評価 |
| |
小西繁輝 |
CT再構成法によるX線円形多層膜ラウエレンズの集光特性評価 |
| |
森川美穂 |
高速X線マイクロCT光学系の開発およびダイナミクス測定への応用 |
| 平成22年 |
大野知佐 |
放射光分岐用分光器の開発 |
| 平成21年 |
奥村健一 |
フレネルゾーン型X線導波路の開発 |
|
橋本琢人 |
走査照明系を用いた大視野高空間分解能X線顕微CT光学系の構築 |
|
堀川智之 |
Strained-Si/SiGe 結晶の同一位置における高平行度X線マイクロビーム回折とマイクロラマン分光による歪み評価 |
| 平成19年 |
阿部麻衣子 |
放射光分岐分光用サファイア単結晶の設計と評価 |
| |
高畑小百合 |
高平行度X線マイクロビームによる受光素子用ゲルマニウム結晶の結晶性評価 |
| |
吉田圭佑 |
高速Ｘ線マイクロＣＴ光学系の開発および４次元観察への応用 |
| 平成18年 |
辻 卓也 |
硬X線領域におけるYoung干渉計の開発および空間コヒーレンス評価 |
| |
林 和樹 |
真鍮回転対陰極を用いたX線発生装置の開発とボロン注入Si(001)ウェーハの結晶性評価への応用 |
| 平成17年 |
冨田直弘 |
高平行度X線マイクロビームによる歪みシリコンウェーハの結晶性評価 |
| |
中川愛湖 |
X線マイクロビーム回折を用いた半導体デバイスの局所結晶歪み評価法の研究 |
| 平成16年 |
西窪明彦 |
高フラックス30keV放射光マイクロビームの生成に関する研究 |
| |
下瀬健一 |
くさび型吸収体による走査型微分位相コントラスト硬Ｘ線顕微鏡の開発 |
| |
林 賢志 |
硬Ｘ線顕微干渉計による三次元位相計測 |
| 平成15年 |
小山貴久 |
結像型硬Ｘ線顕微鏡を用いた顕微干渉法による高分解能位相計測 |
| |
徳島健志 |
GaAs基板上InGaPヘテロ薄膜層の格子歪みの精密解析 |
| |
原 伸英 |
放射光利用高精度Ｘ線回折による電磁鋼板の評価 |
| |
和田いづみ |
放射光マイクロビーム蛍光Ｘ線分析法による毛髪断面の多元素定量マッピングに関する研究 |
| 平成14年 |
井上直行 |
針端微小点光源による拡大撮像型Ｘ線顕微法の研究 |
| |
加藤まどみ |
放射光分岐分光用サファイア単結晶の結晶性評価 |
| |
栗原英明 |
ゾーンプレート・結晶組合わせによる準平行Ｘ線マイクロビーム形成装置の開発 |
| |
新美敏弘 |
結像型Ｘ線顕微鏡による高空間分解能Ｘ線ＣＴシステムの開発 |
| |
渡辺経子 |
放射光利用Ｘ線マイクロビームによるＳＯＩ結晶の評価 |
| 平成13年 |
藤川誠司 |
微小角入射Ｘ線回折法による水素中InP(001)表面構造の解析 |
| |
横山佳行 |
平行光照明による硬Ｘ線位相差顕微鏡の研究 |
| 平成12年 |
伊吹高志 |
硬Ｘ線領域におけるゼルニケ位相差顕微鏡の研究 |
| |
浦川理史 |
高集積回路用SOI基板格子歪みの高精度評価に関する研究 |
| 平成11年 |
高井健吾 |
位相ゾーンプレートを用いた走査型硬Ｘ線顕微鏡の開発 |
| |
竹田晋吾 |
高平行Ｘ線マイクロビームによる発光ダイオード動作下の結晶歪み評価 |
| 令和3年 |
斎藤 柾 |
高精度X線回折のための高フラックス光学系の形成 |
| |
千原直也 |
10 keVにおけるコンポジットゾーンプレートの集光特性に関する研究 |
| |
中島幸輝 |
タイコグラフィXAFSの開発とニッケル超微粉の評価 |
| |
早瀬大貴 |
GaN結晶中の酸素濃度の格子定数への影響 |
| |
細江七海 |
準大気圧硬X線光電子分光における試料－アパーチャーコーン間距離の影響 |
| |
八坂 亘 |
アダマール変換イメージングにおける構造化照明の回折効果の評価 |
| 令和2年 |
足立健太 |
ガス導入によるNAP-HAXPESの帯電解消 |
| |
伊藤優輔 |
放射光X線回折によるα-Ga2O3結晶の結晶性評価 |
| |
竹中研人 |
NAP-HAXPESの試料表面の圧力測定 |
| |
浪岡祐輔 |
放射光X線回折によるMgZnO/MgO結晶の結晶性評価 |
| |
沼田亜由美 |
コヒーレントＸ線を用いたエポキシ樹脂ダイナミクスのイメージング研究 |
| |
松崎 彬 |
高分解能タイコグラフィCTのための自動画像アラインメント法の評価 |
| 令和元年 |
義積拓野 |
グラフェンを利用した絶縁性接着剤の光電子分光 |
| |
有澤日向子 |
位相空間によるZP集光光学系におけるBL輸送部スリットサイズの作用の考察 |
| |
河野雄大 |
明視野X線トポグラフィによるβ-Ga2O3結晶の評価 |
| |
重松大樹 |
縮小投影照明を用いたX線タイコグラフィーの広視野・高速化 |
| |
高津健太 |
多波回折明視野X線トポグラフィによるAlN中の転位の観察 |
| |
藤井綾香 |
グラフェンを用いた絶縁性触媒材料の硬Ｘ線光電子分光 |
| 平成30年 |
岡村 真 |
光線追跡を用いたゾーンプレートの傾斜配置による集光特性の評価 |
| |
池田 匠 |
アンジュレーター放射光の実験ハッチにおける水平方向のビームエミッタンス測定 |
| |
川島基貴 |
コヒーレントX線回折イメージングのための縮小投影照明光学系の集光特性の評価 |
| |
岸本雅司 |
明視野・暗視野トポグラフィでのこう転位密度領域の観察 |
| |
竹田瑶平 |
SiC単結晶のX線回折強度及び蛍光X線の同時測定の研究 |
| 平成29年 |
青井雄幹 |
デフォーカスコントラスト法を用いたＸ線ＣＴ像の定量性評価 |
| |
赤田 樹 |
コヒーレントX線回折イメージング法と相補利用可能な広視野X線結像光学系の開発 |
| |
中塚大介 |
放射光X線によるSOI基板、SOQ基板、SOS基板上Ge層の結晶性評価 |
| |
藤田 優 |
スーパーボルマン効果による放射光X線トポグラフィ |
| |
真鍋美穂 |
分光結晶への入射熱負荷とゾーンプレートの集光特性の関係 |
| |
山本知樹 |
雰囲制御型硬X線光電子分光装置によるAu金属薄膜/Si半導体表面上での低温SiO2形成反応の観察 |
| 平成28年 |
鈴木留珠 |
ゾーンプレートによるX線集光ビームの非点収差補正に関する研究 |
| |
高見侑希 |
コヒーレントＸ線回折イメージング法における位相回復に必要な回折パターンシグナル対ノイズ比の評価 |
| |
福田敬三 |
暗視野ナイフエッジスキャン法の評価と測定プロトコルの開発 |
| |
水落博之 |
放射光Ⅹ線微小領域回折とトポグラフによるNaフラックス法GaN結晶の結晶性評価 |
| |
山田晴可 |
光線追跡によるディフォーカスX線結像光学系におけるエッジ強調効果の研究 |
| |
鎌本春花 |
放射光X線によるOVPE法GaN結晶の評価 |
| 平成27年 |
赤山 類 |
前方透過型X線トポグラフィを用いたSi中の転位線の観察 |
| |
鶴丸哲也 |
多波近似条件下での前方透過型X線トポグラフィ |
| |
八田雄介 |
蛍光X線・回折X線同時取得のための走査型X線顕微鏡の構築 |
| |
深津圭佑 |
ディフォーカスX線結像による透明試料の可視化に関する研究 |
| |
三浦弘貴 |
放射光X線によるＳｉウェーハ中の酸素析出物の評価法に関する研究 |
| |
宮川天将 |
放射光ビームの位相空間分布測定に関する研究 |
| 平成26年 |
足立勇輔 |
X線結像顕微鏡用多層膜積層型リングコンデンサーの作製および評価 |
| |
香川咲貴 |
放射光XAFSを利用したリチウムイオン二次電池の正極材評価 |
| |
垂井佑磨 |
放射光X線マイクロビームによるa-GaN結晶の結晶性評価 |
| |
森 健吾 |
テストチャートを用いた硬X線集光PSF計測法の研究 |
| |
山崎喜登 |
高精度X線回折によるβ-Ga2O3結晶の結晶性評価 |
| 平成25年 |
木下千香子 |
SU-8レジストの硬X線による特性評価とトポグラフィ撮像への応用 |
| |
古谷 匠 |
放射光ラミノグラフィ法の解像特性評価 |
| |
片桐大輔 |
放射光X線を用いたヒト毛髪の内部構造可視化の研究 |
| |
喜多優貴 |
第一遷移金属化合物のXAFS構造解析 |
| |
中路 拓 |
放射光屈折コントラストＣＴにおける位相回復法の研究 |
| 平成24年 |
梅本早織 |
CT再構成における画質改善法の開発 |
| |
小林遥香 |
可視光変換型X線画像検出器用蛍光体の特性評価 |
| |
角田和浩 |
硬X線集光用円形多層膜ゾーンプレートの特性評価 |
| |
中谷俊規 |
X線による分光素子用SiCの結晶性評価 |
| |
福田修平 |
放射光トポグラフィーによるGaN結晶の結晶欠陥評価 |
| |
松村篤恭 |
全反射ゾーンプレートの直交配列による2次元集光特性評価 |
| |
由利礼花 |
高精度X線回折によるGaN結晶の結晶性評価 |
| 平成23年 |
尾上貴洋 |
高平行度Ｘ線マイクロビーム用ベントシリンドリカルミラーの集光特性評価 |
| |
小杉壮平 |
オーバーサンプリングを用いたX線CT像の画像改善法の研究 |
| |
作花賢治 |
硬X線集光ビームを用いたリソグラフィ法の研究 |
| |
硲和 輝 |
マイクロXAFS用光学系の形成 |
| |
廣友稔樹 |
硬Ｘ線円形多層膜ラウエレンズの集光特性評価 |
| |
山田純平 |
フレネルゾーンプレートの集光効率シミュレーション |
| 平成22年 |
東 宏昭 |
結像型硬X線暗視野顕微鏡光学系の開発 |
|
北濱里奈 |
エッジ回折効果を利用した高分解能Ｘ線イメージング法の研究 |
|
澤田沙希 |
フロントビームカップリングにおける１次元Ｘ線導波路の伝搬シミュレーション |
|
下田麻由 |
X線２次元検出器としてのPFAのX線応答 |
|
下村 翔 |
強度検出器を用いた走査型X線位相CT法の開発 |
|
萩 博文 |
高平行度X線マイクロビーム用ミラーの集光特性評価 |
| 平成21年 |
荒井美智子 |
1次元Ｘ線導波路の伝搬効率の評価 |
|
石田知代 |
Ｘ線2次元検出器としてのPMMAのエネルギー依存性の評価 |
|
衣笠陽揮 |
光線追跡法による高平行度X線マイクロビーム用ミラーの設計 |
|
小西繁輝 |
硬X線共焦点顕微鏡光学系の構築および評価 |
|
中山裕貴 |
硬X線ナノプローブの開発及び波面計測への応用 |
|
森川美穂 |
高速X線マイクロCT光学系の高度化 |
| 平成20年 |
大野知佐 |
放射光波面分割分光用シリコン単結晶の評価 |
| |
加藤佳枝 |
拡大投影型Gaborホログラフィー |
| |
田中琢也 |
高速カメラを用いた走査型X線位相CTの開発 |
| |
門前舞弥 |
高分解能２次元Ｘ線検出器としてのＰＭＭＡの特性評価 |
| 平成19年 |
奥村健一 |
X線導波路の研究開発 |
| |
炭吉 優 |
放射光利用蛍光Ｘ線分析法における軽元素の定量性向上の研究 |
| |
橋本琢人 |
結像光学系を用いた大視野高空間分解能X線CT光学系の開発 |
| |
堀川智之 |
高平行度X線マイクロビームによる酸化濃縮SGOIウェーハの評価 |
| |
山科剛志 |
ゾーンプレートを用いたマイクロビームX線小角散乱光学系の構築 |
| 平成18年 |
岡田雅之 |
アンジュレータ放射光を用いたX線小角散乱装置の構築および性能評価 |
| |
川崎孝伸 |
2次元PSDを利用したX線放射光の振動特性評価 |
| |
高橋 徹 |
放射光分岐分光用薄板サファイア単結晶の結晶性の評価 |
| |
藤井祐貴 |
光導波路用ゲルマニウム結晶の結晶性評価 |
| |
槇原大輝 |
放射光を用いた多層膜の反射率測定及び評価 |
| 平成17年 |
阿部麻衣子 |
高平行度X線マイクロビーム形成装置の改良 |
| |
鎌倉亜由子 |
高平行度X線マイクロビームによるダイヤモンドライクカーボン薄膜の構造評価 |
| |
高畑小百合 |
高平行度X線マイクロビームによるシリコンエピタキシャル膜の格子定数評価 |
| |
花島 学 |
マイクロビームを用いた小型X線電子顕微鏡の解像特性評価 |
| |
吉田圭佑 |
X線高速カメラの開発及びイメージングへの応用 |
| 平成16年 |
辻 卓也 |
波面分割型Ｘ線干渉計を用いた放射光光源の空間コヒーレンス測定法の研究 |
| |
林 和樹 |
高平行度X線マイクロビームによる歪みシリコン基板の結晶性評価 |
| |
松田玲奈 |
毛髪試料の多元素特性線における線吸収係数同時測定 |
| |
南野真容子 |
Ｘ線マイクロビームを用いた微細構造半導体デバイスの局所歪み評価法の研究 |
| |
安井宏幸 |
高平行度X線マイクロビームを用いたSiGe基板の断面X線回折による結晶性評価 |
| |
吉田紀子 |
ダイアモンドライクカーボンの反射率測定による評価 |
| 平成15年 |
殿井一宏 |
全反射平面鏡の反射率測定と高調波除去特性の評価 |
| |
太井義真 |
Ｘ線回折法によるSiGe層の結晶性評価 |
| |
中川愛湖 |
集光ゾーンプレートを用いた30 keV高エネルギーＸ線の強度増強と蛍光スペクトル測定 |
| |
平尾祐亮 |
Zn回転対陰極からのＸ線発生とその特性に関する研究 |
| 平成14年 |
奥野且久 |
高精度回折計によるイオン注入層の結晶性評価 |
| |
西窪明彦 |
微小点光源Ｘ線発生装置を用いたＸ線CTの基礎実験 |
| |
下瀬健一 |
冷却ピンホールを仮想点光源としたマイクロビーム光学系におけるビームサイズ評価 |
| |
冨田直弘 |
結晶とZPを用いた準平行Ｘ線マイクロビーム形成装置の特性評価 |
| |
林 賢志 |
Ｘ線CT法によるゼルニケ位相差顕微鏡像の３次元構造化に関する研究 |
| |
吉田 祐 |
ＳＯＩ結晶のＸ線トポグラフによる評価 |
| 平成13年 |
小山貴久 |
走査型Ｘ線顕微鏡を用いた毛髪中の微量元素マッピングと定量分析 |
| |
辰巳直人 |
ゾーンプレート生成サブミクロンＸ線マイクロビームの性能評価 |
| |
徳島健志 |
GaAs基板上のInGaPのヘトロエピタキシャル層の歪み解析 |
| |
原 伸英 |
電磁鋼板の結晶性評価 |
| |
山本美里 |
マイクロビーム光学系用小型入射Ｘ線強度モニターの試作研究 |
| 平成12年 |
加藤まどみ |
放射光分光用サファイア単結晶の完全性評価 |
| |
栗原英明 |
金属／絶縁膜堆積シリコン層の結晶性評価 |
| |
新美敏弘 |
屈折コントラストＸ線CT法の基礎研究 |
| |
|
SOI表面シリコン層の結晶性評価 |
| |
渡辺経子 |
鋼板処理表面の粒界結晶性に関するＸ線回折評価 |
| 平成11年 |
橋田 剛 |
位相ゾーンプレートを用いた走査型硬Ｘ線顕微鏡による暗視野イメージングの研究 |
| |
藤川誠司 |
気相成長中InP(001)表面構造の微小角入射Ｘ線回折 |
| |
横山佳行 |
位相ゾーンプレートを用いた結像型硬Ｘ線顕微鏡の研究 |
| 平成10年 |
井上直行 |
Ｘ線逆格子空間マップによるダイヤモンド結晶の完全性評価 |
| |
伊吹高志 |
キャピラリー光学素子によるＸ線集光技術の研究 |
| |
浦川理史 |
非対称反射を用いたＸ線平面波マイクロビームの形成とその応用 |
| |
国分泰斗 |
微小点光源によるイメージング法 |
| |
佐竹 剛 |
Ｘ線回折法を用いた半導体単結晶の完全性評価 |
| 平成9年 |
櫻井俊之 |
シリコン単結晶による極端非対称反射を用いた平面波マイクロビームの形成 |
| |
高井健吾 |
Ｘ線の屈折コントラストによる拡大撮像法 |
| |
竹田晋吾 |
放射光分光用ダイヤモンド結晶の完全性評価 |
